据EurekAlert!网8月5日消息，加拿大麦吉尔大学开发出一种可以检测材料中纳米级缺陷的新技术。应用于太阳能电池、手机、照相机等设备的光学检测器所使用的材料具有不同类型的缺陷，这些缺陷尺寸通常仅为纳米级别，很难被表征。新技术将超快非线性光学方法与原子力显微镜的高空间分辨率结合在一起，可使研究人员使用高时空分辨率来研究、理解并最终控制材料中的缺陷，已被证明适用于绝缘非线性光学材料以及纳米二硒化钼的纳米薄二维半导体薄片。

资料来源：https://www.eurekalert.org/pub_releases/2020-08/mu-mtf080520.php、