据生物谷公众号2月20日消息，美国耶鲁大学（Yale University）研究人员自主开发了一种名为“正电子发射断层扫描”（positron emission tomography ，PET）的先进成像技术，并借助该技术证实了导致阿尔茨海默病认知缺陷的根源，即大脑突触的破坏。研究人员分别建立了五个与认知表现相匹配的模型，测量了64名受试者在这五方面的认知表现。结果显示，突触密度在被阿尔茨海默病所影响的大脑区域及海马体区域中均明显较低，而突触密度与前额叶、颞叶、顶叶和枕叶皮质区域的整体认知呈正相关。该技术让研究人员得以追踪患者随时间推移逐渐丧失突触的情况，有助于科学家更好地了解阿尔茨海默病发生的过程。

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