据量科网3月26日消息，芬兰Bluefors公司与荷兰JPE公司正在开展联合研发项目。该项目结合了Bluefors在先进低温技术领域的优势与JPE在超精密低温定位方面的专长，旨在推出突破性的量子芯片表征方法，即可在100毫开尔文以下运行的新型低温探针系统。该系统支持对最大150毫米晶圆上的完整量子芯片或大量芯片裸片进行测试。项目该方案预计可将测试周期缩短至少十倍，单次降温即可完成整片晶圆或数十颗裸片的测量，大幅提升了表征通量，同时避免了不必要的封装与引线键合工序。